32.768KHz贴片晶振测试仪

32.768KHz贴片晶振测试仪

产品简介：

用于测试 SMD 封装（1610/2016/2012/3215/3225 等），主要测试频率、周期、PPM、分档与上下限报警，闸门时间可选，适合量产抽检与来料筛选。

核心测试项目与工装适配

频率与 PPM：判断是否在标称 ±10/20/50ppm 等公差内，批量分档筛选。

无源晶振：需负载电容可调（6pF/7pF/9pF/12.5pF 等），模拟实际电路负载。

夹具：通用型用探针 / 弹片夹具，微型封装建议选非接触感应工装，避免引脚损伤。

主要技术指标：
　　频率测量范围： 0.1Hz — 100MHz
　　频率测量灵敏度：25mv
　　PPm测量：10 Hz — 100 MHz
　　PPm测量精度：≤1 PPm （1×10-6）
　　（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）
　　中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定
　　误差设置范围设定： ± 1 — ± 999 PPm任意设定。
　　闸门设置：四档 ，0.01s、 0.1s、1s三档固定，
　　1档闸门1ms — 10s可设，
　　每1mS为一阶梯任意设定。
　　周期测量范围：100 ms — 10 s
　　时基频率：10MC
　　晶振稳定性：5 ×10-7 / 日

32.768KHz贴片晶振测试仪照片如下